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Issue Date | Title | Author(s) |
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2007-11 | 천이 지연 고장 테스트를 위한 개선된 IEEE 1500 래퍼 셀 및 인터페이스 회로 설계 | 박성주 |
2007-11 | 저비용 SoC 테스트를 위한 IEEE 1500 래퍼 및 테스트 제어 | 박성주 |
2007-05 | 저비용 SoC 테스트를 위한 IEEE 1500 래퍼 설계 | 박성주 |
2007-02 | 칩 및 코아간 연결선의 지연 고장 테스트 | 박성주 |
2008-06 | Interconnect Delay Fault Test on Boards and SoCs with Multiple Clock Domains | 박성주 |