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Issue Date | Title | Author(s) |
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2005-07 | 논리 최적화 기법을 이용한 병렬 CRC 회로 설계 | 박성주 |
2005-07 | 논리 최적화 기법을 이용한 병렬 회로 설계 CRC | 박성주 |
2005-05 | 다중 시스템 클럭과 이종 코아를 가진 시스템 온 칩을 위한 연결선 지연 고장 테스트 제어기 | 박성주 |
2005-05 | 다중 시스템 클럭과 이종 코아를 가진 시스템 온 칩을 위한 연결선 지연 고장 테스트 제어기 | 박성주 |
2006-01 | 다중 시스템 클럭으로 동작하는 보드 및 SoC의 연결선 지연 고장 테스트 | 박성주 |
2014-12 | 메모리 데이터의 신뢰성 향상을 위한 LDPC의 효과적 사용 | 박성주 |
2000-11 | 부분스캔을 고려한 최적화된 상태할당 기술 개발 | 박성주 |
2001-06 | 상위·하위 수준에서 통합된 테스트 합성 기술의 개발 | 박성주 |
2000-05 | 상태 천이 분석에 의한 부분 스캔 기술 | 박성주 |
2000-08 | 상태 천이 분석에 의한 부분스캔 기술 | 박성주 |
2009-02 | 스캔 기반 사이드 채널 공격에 대한 새로운 AES 코아 키 보호 기술 | 박성주 |
2010-02 | 스캔 설계된 AES 코아의 효과적인 비밀 키 보호 기술 | 박성주 |
2008-08 | 여성결혼이민자를 위한 한국어 듣기 교재 개발 방안 | 박성주 |
2002-11 | 인피니밴드 Link Physical 인터페이스 제어기 설계 | 박성주 |
2004-08 | 재구성 가능한 시스템 칩 테스트 제어기술의 개발 | 박성주 |
2005-06 | 저 전력 시스템 온 칩 설계를 위한 버스 분할 기술 | 박성주 |
2007-11 | 저비용 SoC 테스트를 위한 IEEE 1500 래퍼 및 테스트 제어 | 박성주 |
2007-05 | 저비용 SoC 테스트를 위한 IEEE 1500 래퍼 설계 | 박성주 |
2006-10 | 저전력 테스트 데이터 압축 개선을 위한 효과적인 기법 | 박성주 |
2001-10 | 지연고장 점검을 위한 효율적인 IEEE 1149.1 바운다리스캔 설계 | 박성주 |