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저전력 테스트 데이터 압축 개선을 위한 효과적인 기법

Title
저전력 테스트 데이터 압축 개선을 위한 효과적인 기법
Other Titles
An Efficient Technique to Improve Compession for Low-Power Scan Test Data
Author
박성주
Keywords
test data compression; low power; scan test; soc test
Issue Date
2006-10
Publisher
대한전자공학회
Citation
전자공학회논문지 - SD, v. 43, No. 10, Page. 104 - 110
Abstract
오늘날 시스템 온 칩 테스트에 있어서 많은 양의 테스트 데이터, 시간 및 전력 소모는 매우 중요한 문제이다. 이러한 문제들을 해결하기 위해서 본 논문은 새로운 테스트 데이터 압축 기술을 제안한다. 우선, 테스트 큐브 집합에 있는 돈 캐어 비트에 저전력 테스트를 위한 비트할당을 한다. 그리고, 비트할당이 된 저전력 테스트 데이터의 압축효율을 높이기 위해 이웃 비트 배타적 논리합 변환을 사용하여 변환한다. 최종적으로, 변환된 테스트 데이터는 효과적으로 압축 됨으로써 테스트 장비의 저장공간과 테스트 데이터 인가시간을 줄일 수 있게 된다. The huge test data volume, test time and power consumption are major problems in system-on-a-chip testing. To tackle those problems, we propose a new test data compression technique. Initially, don’t-cares in a pre-computed test cube set are assigned to reduce the test power consumption, and then, the fully specified low-power test data is transformed to improve compression efficiency by neighboring bit-wise exclusive-or (NB-XOR) scheme. Finally, the transformed test set is compressed to reduce both the test equipment storage requirements and test application time.
URI
http://www.dbpia.co.kr/journal/articleDetail?nodeId=NODE00766496&language=ko_KRhttp://repository.hanyang.ac.kr/handle/20.500.11754/108740
ISSN
1229-6368
Appears in Collections:
COLLEGE OF COMPUTING[E] > COMPUTER SCIENCE(소프트웨어학부) > Articles
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