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Browsing "ETC[S]" byAuthor박성주

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Issue DateTitleAuthor(s)
2000-08Optimal state assignment technique for partial scan designs박성주
2001-11P1500 compliant Microcode-based Memory BIST for Testing of Embedded Memory박성주
2000-05A Partial Scan Design by Unifying Structural Analysis and Testabilities박성주
2001-12A Partial Scan Design Unifying Structural Analysis and Testabilities박성주
2000-12PCI 버스 기반의 고속 병렬신호처리보드의 개발박성주
2021-08Reliable Test Architecture with Test Cost Reduction for Systolic based DNN accelerators박성주
2002-11A Simple Wrapped Core Linking Module for SoC Test Access박성주
2021-07Test Architecture for Systolic Array of Edge-Based AI Accelerator박성주
2021-11Time Multiplexed LBIST for in-field testing of Automotives AI Accelerators박성주
2000-01TMS320C67x 기반 병렬신호처리시스템의 설계와 성능분석박성주
2000-11부분스캔을 고려한 최적화된 상태할당 기술 개발박성주
2001-06상위·하위 수준에서 통합된 테스트 합성 기술의 개발박성주
2000-05상태 천이 분석에 의한 부분 스캔 기술박성주
2000-08상태 천이 분석에 의한 부분스캔 기술박성주
2002-11인피니밴드 Link Physical 인터페이스 제어기 설계박성주
2001-10지연고장 점검을 위한 효율적인 IEEE 1149.1 바운다리스캔 설계박성주
2009-06코아의 기능성 래퍼를 IEEE 1500 래퍼로 재사용하기 위한 디자인 기법박성주
2002-05테스팅 및 저전력을 고려한 최적화된 상태 할당 기술 개발박성주
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