상태 천이 분석에 의한 부분스캔 기술

Abstract

부분스캔 설계는 하위수준의 정보와 상위수준의 정보에 의한 방법으로 분류해볼 수 있다. 구조적 분석과 테스트가능도에 의한 방법은 오직 하위수준의 정보만 사용한다. 즉 게이트 수준의 정보만을 사용한다. 그러나, 본 논문에서는 상위수준의 정보에 의한 부분스캔 알고리즘을 제안하고자 한다. 상태 테이블의 상태변수의 비트 천이를 분석함으로써 구조적 분석방법에 대해 비교할 만한 고장점검도로 스캔 플립플롭을 선택하는데 걸리는 시간을 매우 줄일 수 있었다.

The partial scan design can be classified into the techniques based on the low level information and the high level information. The techniques by structural analysis and testabilities use only the low level information, namely the structural information of the gate level. But in this paper, we introduce a new partial scan algorithm based on the high level information. By analyzing the bit transitions of state variables in the state table, the time taken to select scan flip-flops can be considerably reduced with comparable fault coverage on the structural methods.