102 0

상태 천이 분석에 의한 부분 스캔 기술

Title
상태 천이 분석에 의한 부분 스캔 기술
Other Titles
A New Partial Scan Technique Based on the Analysis of State Transitions
Author
박성주
Issue Date
2000-05
Publisher
대한전자공학회
Citation
전자공학교육연구회지(Journal of Engineering & Technology), v. 9, no. 1, page. 69-75
Abstract
부분스캔 설계는 하위수준의 정보와 상위수준의 정보에 의한 방법으로 분류해볼 수 있다. 구조적 분석과 테스트가능도에 의한 방법은 오직 하위수준의 정보만 사용한다. 즉 게이트 수준의 정보만을 사용한다. 그러나, 본 논문에서는 상위수준의 정보에 의한 부분스캔 알고리즘을 제안하고자 한다. 상태 테이블의 상태변수의 비트 천이를 분석함으로써 구조적 분석방법에 대해 비교할 만한 고장점검도로 스캔 플립플롭을 선택하는데 걸리는 시간을 매우 줄일 수 있었다.
URI
http://www.riss.kr/search/detail/DetailView.do?p_mat_type=1a0202e37d52c72d&control_no=2818542b2496a7fehttps://repository.hanyang.ac.kr/handle/20.500.11754/161706
Appears in Collections:
ETC[S] > 연구정보
Files in This Item:
There are no files associated with this item.
Export
RIS (EndNote)
XLS (Excel)
XML


qrcode

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.

BROWSE