상태 천이 분석에 의한 부분 스캔 기술

Abstract

부분스캔 설계는 하위수준의 정보와 상위수준의 정보에 의한 방법으로 분류해볼 수 있다. 구조적 분석과 테스트가능도에 의한 방법은 오직 하위수준의 정보만 사용한다. 즉 게이트 수준의 정보만을 사용한다. 그러나, 본 논문에서는 상위수준의 정보에 의한 부분스캔 알고리즘을 제안하고자 한다. 상태 테이블의 상태변수의 비트 천이를 분석함으로써 구조적 분석방법에 대해 비교할 만한 고장점검도로 스캔 플립플롭을 선택하는데 걸리는 시간을 매우 줄일 수 있었다.