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Issue DateTitleAuthor(s)
2011-02AMBA 기반 SoC의 병렬 코어 테스트를 위한효과적인 테스트 설계 기술박성주
2011-04Performance Improvement by Logic Sharing on Using Unused Spare Columns for Memory EC박성주
2011-04Multiple cell upsets tolerant content-addressable memory박성주
2011-08Redundancy TSV 연결 테스트를 위한 래퍼셀 설계박성주
2011-11Efficient use of unused spare columns to improve memory error correcting rate박성주
2012-09Efficient Use of Unused Spare Columns for Reducing Memory Miscorrections박성주
2012-09An Efficient Technique to Protect AES Secret Key from Scan Test Channel Attacks박성주
2012-12Characterizing the Capacitive Crosstalk in SRAM Cells Using Negative Bit-Line Voltage Stress박성주
2013-01TSV 기반 3D IC Pre/Post Bond 테스트를 위한IEEE 1500 래퍼 설계기술박성주
2013-07테스트 비용 절감을 위한 스캔체인 기반의 저전력 테스트 패턴 압축기술박성주
2013-09IEEE 1149.7 표준 테스트 인터페이스를 사용한 핀 수 절감 테스트 기술박성주
2013-11FlexRay를 이용한 자동차 신뢰성 향상 기법박성주
2013-11CAN 프로토콜을 이용한 칩 고장 진단 기술 개발박성주
2014-01Reliability issues for automobile SoCs박성주
2014-05Frequency-ordered 기반 FDR 테스트패턴 압축 알고리즘박성주
2014-06Efficient Parallel Scan Test Technique for Cores on AMBA-based SoC박성주
2014-08An Efficient Multiple Cell Upsets Tolerant Content-Addressable Memory박성주
2014-12메모리 데이터의 신뢰성 향상을 위한 LDPC의 효과적 사용박성주
2015-02Hybrid Test Data Transportation Scheme for Advanced NoC-Based SoCs박성주
2015-05Efficient diagnosis technique for aging defects on automotive semiconductor chips박성주

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