Repository at Hanyang UniversityCOLLEGE OF SCIENCE AND CONVERGENCE TECHNOLOGY[E](과학기술융합대학)PHOTONICS AND NANOELECTRONICS(나노광전자학과)Articles
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연결선에 기인한 시간지연의 정확한 모델 및 실험적 검증
- Title
- 연결선에 기인한 시간지연의 정확한 모델 및 실험적 검증
- Other Titles
- A New Accurate Interconnect Delay Model and Its Experiment Verification
- Author
- 심종인
- Issue Date
- 2000-09
- Publisher
- 대한전자공학회
- Citation
- 전자공학교육연구회지, v. 37, no .9, page. 78-85
- Abstract
- 본 논문에서는 고속 VLSI 회로 내의 전송선에서 발생하는 전달지연시간을 계산하는 해석적 모델을 제시하고 그 모델의 정확성을 실험적으로 검증한다. 새로 제시한 모델은 표피효과, 근접효과, 그리고 실리콘 기판에 의한 전송선 파라미터 변화를 고려하기때문에 이들 영향을 반영한 새로운 인터커넥트 회로모델에 대하여 새로운 연결선에서의 신호지연을 해석이 가능하다.
- URI
- https://www.dbpia.co.kr/journal/articleDetail?nodeId=NODE00404797https://repository.hanyang.ac.kr/handle/20.500.11754/162854
- ISSN
- 1229-6368
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