2002-05 | Superfluid-insulator transition of the Josephson-junction array model with commensurate frustration | 차민철 |
2002-06 | A Traveling-Wave-Based Waveform Approximation Technique for Verification of Single Transmission Lines | 심종인 |
2002-06 | Facet Reflectivity of a Spot-Size-Converter integrated Semiconductor Optical Amplifier | 심종인 |
2002-06 | 모드 크기 변환기가 집적된 반도체 광증폭기에서의 단면구조가 반사율에 미치는 영향 | 심종인 |
2002-06 | Development of Multichannel Ellipsometry with Synchronously Rotating Polarizer and Analyzer | 안일신 |
2002-01 | RF 패키지 인덕턴스가 실리콘 기판 커플링에 미치는 영향 모델링 및 해석 | 심종인 |
2002-01 | 1차원 보존계의 실공간 재규격화군 연구 | 차민철 |
2002-02 | PDP 시스템의 EMI 예측을 위한 회로 모델링 및 실험적 검증 | 심종인 |
2002-02 | 복잡한 다층 VLSI 배선구조에서의 효율적인 신호 무결성 검증 방법 | 심종인 |
2002-02 | Spectroscopic Ellipsometry Study of the Composition of Cobalt/SiO Thin Films | 안일신 |
2002-03 | 가상 직선 모델을 사용한 일반적 VLSI 배선의 신호의 무결성 검증 | 심종인 |
2003-06 | Use of Rotating Compensator Spectroscopic Ellipsometry for Line-width Control | 안일신 |
2003-12 | Analog Characterization of Low-Voltage MQW Traveling-Wave Electroabsorption Modulators | 심종인 |
2003-12 | Ellipsometry에서의 calibration 및 입사면 고정형 ellipsometer | 안일신 |
2003-12 | Mueller matrix ellipsometry 제작 및 응용 | 안일신 |
2003-12 | Monitoring of photodeposition of polymer films from diacetylene monomer solutions using in situ real-time spectroscopic ellipsometry | 안일신 |
2003-12 | 분광 엘립소미트리를 이용한 유리기판 위의 박막분석 | 안일신 |
2003-12 | Aerial Image prediction for mask defect in extreme ultraviolet lithography | 안일신 |
2003-12 | Large optical nonlinearities in BiMnO3 thin films | 안일신 |
2003-11 | A Compact Multi-Layer IC Package Model for Efficient Simulation, Analysis, and Design of High-Performance VLSI Circuits | 심종인 |