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Issue Date | Title | Author(s) |
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2007-11 | 천이 지연 고장 테스트를 위한 개선된 IEEE 1500 래퍼 셀 및 인터페이스 회로 설계 | 박성주 |
2009-05 | AMBA AXI 기반의 효율적인 SoC 테스트 제어기 설계 | 박성주 |
2007-02 | 칩 및 코아간 연결선의 지연 고장 테스트 | 박성주 |
2008-05 | AES 코아의 비밀키 보호를 위한 새로운 시큐어 스캔 설계 기술 | 박성주 |
2008-04 | 효율적인 SoC테스트를 위한 온/오프-칩 버스 브리지 활용기술에 대한 연구 | 박성주 |
2005-07 | Crosstalk과 정적 고장을 고려한 효과적인 연결선 테스트 알고리즘 및 BIST 구현 | 박성주 |
2009-02 | 스캔 기반 사이드 채널 공격에 대한 새로운 AES 코아 키 보호 기술 | 박성주 |
2008-04 | 효율적인 SoC 테스트를 위한 온/오프-칩 버스 브리지 활용기술에 대한 연구 | 박성주 |