지연고장 점검을 위한 효율적인 IEEE 1149.1 바운다리스캔 설계
- Title
- 지연고장 점검을 위한 효율적인 IEEE 1149.1 바운다리스캔 설계
- Other Titles
- An Efficient IEEE 1149.1 Boundary Scan Design for At-Speed Delay Testing
- Author
- 박성주
- Issue Date
- 2001-10
- Publisher
- 대한전자공학회
- Citation
- 전자공학회논문지-SD, v. 38, no. 10, page. 58-64
- Abstract
- 현재의 IEEE 1149.1 바운다리스캔 표준안은 보드나 내장 코어의 연결선상의 지연고장은 점검 할 수 없다. 본 논문에서는 표준안에 위배되지 않게 TAP 제어기를 수정함으로 시스템 클럭 속도에서 지연고장을 점검 할 수 있는 기술을 개발하였다. 실험을 통해서 본 논문에서 제안한 방법이 기존의 방법보다 추가되는 면적이 적음을 보였다.
Delay defects on I/O pads, interconnections of a board, or interconnections among embedded cores can not be tested with the current IEEE 1149.1 boundary scan design. This paper introduces a simple design technique which slightly modifies the TAP controller to test delay defects at system speed. Experimental design shows that the technique proposed requires much less area than a commercial approach.
- URI
- https://www.dbpia.co.kr/journal/articleDetail?nodeId=NODE00404881https://repository.hanyang.ac.kr/handle/20.500.11754/160116
- ISSN
- 1229-6368
- Appears in Collections:
- ETC[S] > 연구정보
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