Repository at Hanyang UniversityCOLLEGE OF ENGINEERING SCIENCES[E](공학대학)ELECTRICAL ENGINEERING(전자공학부)Articles
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dc.contributor.author노정진-
dc.date.accessioned2020-10-28T06:46:24Z-
dc.date.available2020-10-28T06:46:24Z-
dc.date.issued2003-02-
dc.identifier.citation전자공학회논문지 v.40, no.2, page.46-56en_US
dc.identifier.issn1229-6368-
dc.identifier.urihttp://www.dbpia.co.kr/journal/articleDetail?nodeId=NODE00466456-
dc.identifier.urihttps://repository.hanyang.ac.kr/handle/20.500.11754/155063-
dc.description.abstract본 논문에서는 최근 많은 연구대상이 되고 있는 oscillation test methodology(OTEM)의 파라메트릭 고장에 대한 커버리지를 높일 수 있는 방법을 제안한다. OTM은 테스트 입력신호가 별도로 필요없는 장점으로 인해 효율적인 built-in self-test(BIST) 기술로서도 많은 관심의 대상이 되어왔다. 그러나 아직 여러 가지 면에서 좀더 연구개발이 필요한 상태이며, 따라서 본 논문에서는 그 성능을 향상시킬 수 있는 방안을 제안한다.en_US
dc.language.isoko_KRen_US
dc.publisher대한전자공학회en_US
dc.title시분할 멀티플렉싱 기법을 이용한 아날로그 회로응답 분석en_US
dc.title.alternativeTime-division Multiplexing Scheme for Analog Response Analysisen_US
dc.typeArticleen_US
dc.relation.journal전자공학회논문지-
dc.contributor.googleauthor노정진-
dc.relation.code2012210989-
dc.sector.campusE-
dc.sector.daehakCOLLEGE OF ENGINEERING SCIENCES[E]-
dc.sector.departmentDIVISION OF ELECTRICAL ENGINEERING-
dc.identifier.pidjroh-
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