QFD와 다구찌 기법을 이용한 커넥터 사출성형공정 개선 방안

Abstract

본 연구는 Connector 사출성형 공정에서 발생되는 불량을 줄이기 위하여 최적 수준의 사출조건을 찾아내기 위한 것이다. 본 연구에서는 사출성형의 불량유형별 공정변수의 주요 인자에 대해 조사하였고, AHP 기법을 이용하여 중요도 순위를 선정하였다. QFD 기법을 이용하여 불량의 요인과 사출공정 조건의 공정변수에 대한 관계를 분석하였다. 사출성형 공정의 최적화 검증을 위해 휨 발생에 영향을 주는 공정변수인 금형온도, 사출압력, 냉각시간, 보압시간을 제어인자로 선정하였으며, 다구찌 기법의 3수준 직교배열표와 분산분석을 이용하여 각 인자의 최적 수준과 SN비를 도출하였다. 그 결과 금형온도가 92.2%로 휨 발생에 가장 큰 영향을 미치는 것으로 나타났으며, 최적 조건은 금형온도 72℃, 사출압력 350Mpa, 냉각시간 4초, 보압시간 0.8초로 결정되었다. 이것은 휨 발생에 대한 공정변수의 영향력을 분석한 결과와 매우 유사한 모형으로 나타났다. 다구찌 기법으로 검증된 인자들의 최적 수준의 효용성을 확인하기 위해 Connector 사출성형 공정의 표준 조건으로 표준화를 시켜 공정 최적화를 실시한 결과 품질의 향상은 개선 전보다 약 55%가 향상되어 품질 개선에 효과가 있는 것으로 나타났다.