어댑티브 메모리 테스팅을 위한 새로운 메트릭 개발

Abstract

메모리를 테스트 하기위해서 지금까지 다양한 테스트 알고리즘들이 개발되고 실제 산업현장에서 사용되고 있다. 각 테스트 알고리즘은 특정 테크놀로지 및 특정 메모리 아키텍쳐로부터 발생할 수 있는 폴트 모델들을 감지하기 위한 목적으로 만들어져 왔고 십수년의 메모리 개발 역사와 더불어 현재까지 수많은 테스트 알고리즘들이 개발되었다. 시간이 흐르면서 끊임없이 새로운 테크놀로지 및 메모리 아키텍쳐가 등장하면서 동시에 해당 메모리를 테스트하기 위한 작업은 점점 복잡해지고 있다. 그 이유로는 첫째, 새로운 메모리를 테스트하기위해 기존의 테스트 알고리즘들을 모두 테스트하기에는 시간비용이 익스포넨셜 하게 증가하게 되었다. 둘째, 테크놀로지와 메모리 아키텍쳐가 계속해서 변하기 때문에 새로운 폴트모델이 등장하거나 기존의 폴트 모델이 사라지게 되는데 이에 반해 특정 메모리를 테스트하기 위한 테스트 알고리즘 집합에서 특정 테스트 알고리즘을 가감하는 작업은 현재 체계적으로 이루어지지 않고 있다. 따라서 새롭게 등장하는 메모리를 테스트하기 위한 시간 비용을 줄이고 효과적인 테스트 알고리즘 집합을 구성하기 위해 각 테스트 알고리즘들의 성능을 평가할 수 있는 새로운 메트릭을 제안하고 기존의 메트릭인 폴트 커버리지와의 관계에 대해서 분석하도록 한다.