Repository at Hanyang UniversityCOLLEGE OF ENGINEERING[S](공과대학)ELECTRONIC ENGINEERING(융합전자공학부)Articles
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Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 신동준 | - |
| dc.date.accessioned | 2019-03-19T05:30:43Z | - |
| dc.date.available | 2019-03-19T05:30:43Z | - |
| dc.date.issued | 2016-11 | - |
| dc.identifier.citation | 2016년도 한국통신학회 추계종합학술발표회 논문집, Page. 575-576 | en_US |
| dc.identifier.uri | http://www.dbpia.co.kr/Journal/ArticleDetail/NODE07082873 | - |
| dc.identifier.uri | https://repository.hanyang.ac.kr/handle/20.500.11754/100983 | - |
| dc.description.abstract | 통신에 있어서 보안은 초연결사회의 도래와 더불어 더욱 중요해졌다. 보안을 위해선 장비마다 각기 다른 보안키를 가져야하며 보안키는 타인에게 탐지되지 못하도록 높은 랜덤성이 보장되어야 한다. 본 논문은 보안에 중요한 부분을 담당하는 난수 발생기인 PUF (Physical Unclonable Function)에서 추출한 데이터의 랜덤성을 몇 가지 통계적 테스트를 이용하여 검증한다. 데이터가 테스트를 통과하지 못할 경우 개선 방안을 적용한 후, 재검증을 통해 PUF에서 추출한 데이터로 충분한 랜덤성을 갖는 난수를 만들 수 있음을 확인한다. | en_US |
| dc.language.iso | ko_KR | en_US |
| dc.publisher | 한국통신학회 | en_US |
| dc.title | PUF 출력 난수의 랜덤성 검증 | en_US |
| dc.title.alternative | Randomness Test for Random Numbers Generated by PUF | en_US |
| dc.type | Article | en_US |
| dc.relation.page | 591-592 | - |
| dc.contributor.googleauthor | 황현민 | - |
| dc.contributor.googleauthor | 권순희 | - |
| dc.contributor.googleauthor | 신동준 | - |
| dc.contributor.googleauthor | Hwang, Hyun Min | - |
| dc.contributor.googleauthor | Kwon, Soon Hee | - |
| dc.contributor.googleauthor | Shin, Dong Joon | - |
| dc.sector.campus | S | - |
| dc.sector.daehak | COLLEGE OF ENGINEERING[S] | - |
| dc.sector.department | DEPARTMENT OF ELECTRONIC ENGINEERING | - |
| dc.identifier.pid | djshin | - |
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