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시분할 멀티플렉싱 기법을 이용한 아날로그 회로응답 분석

Title
시분할 멀티플렉싱 기법을 이용한 아날로그 회로응답 분석
Other Titles
Time-division Multiplexing Scheme for Analog Response Analysis
Author
노정진
Issue Date
2003-02
Publisher
대한전자공학회
Citation
전자공학회논문지 v.40, no.2, page.46-56
Abstract
본 논문에서는 최근 많은 연구대상이 되고 있는 oscillation test methodology(OTEM)의 파라메트릭 고장에 대한 커버리지를 높일 수 있는 방법을 제안한다. OTM은 테스트 입력신호가 별도로 필요없는 장점으로 인해 효율적인 built-in self-test(BIST) 기술로서도 많은 관심의 대상이 되어왔다. 그러나 아직 여러 가지 면에서 좀더 연구개발이 필요한 상태이며, 따라서 본 논문에서는 그 성능을 향상시킬 수 있는 방안을 제안한다.
URI
http://www.dbpia.co.kr/journal/articleDetail?nodeId=NODE00466456https://repository.hanyang.ac.kr/handle/20.500.11754/155063
ISSN
1229-6368
Appears in Collections:
COLLEGE OF ENGINEERING SCIENCES[E](공학대학) > ELECTRICAL ENGINEERING(전자공학부) > Articles
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