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Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 박성주 | - |
| dc.date.accessioned | 2019-09-20T02:23:08Z | - |
| dc.date.available | 2019-09-20T02:23:08Z | - |
| dc.date.issued | 2005-05 | - |
| dc.identifier.citation | 2005년도 SOC 학술대회, Page. 283 - 288 | en_US |
| dc.identifier.uri | http://www.dbpia.co.kr/journal/articleDetail?nodeId=NODE01731688&language=ko_KR | - |
| dc.identifier.uri | https://repository.hanyang.ac.kr/handle/20.500.11754/110535 | - |
| dc.description.abstract | 본 논문은 SoC 상에서 정적인 고장 뿐 아니라 동적인 고장도 점검하고 진단할 수 있는 새로운 At-speed Interconnect Test Controller (ASITC)를 소개한다. SoC는 IEEE 1149.1과 P1500 래퍼의 코아들로 구성되고 다중 시스템 클럭에 의해 동작될 수 있으며, 이러한 복잡한 SoC를 테스트하기 위해 P1500 래퍼의 코아를 위한 인터페이스 모듈과 update부터 capture까지 1 시스템 클럭으로 연결선의 지연 고장을 점검할 수 있는 ASITC를 설계하였다. 제안한 ASITC는 FPGA로 구현하여 기능검증을 하였으며 기존의 방식에 비해 테스트 방법이 쉽고, 면적의 오버헤드가 적다는 장점이 있다. | - |
| dc.language.iso | ko_KR | en_US |
| dc.publisher | 대한전자공학회 | en_US |
| dc.title | 다중 시스템 클럭과 이종 코아를 가진 시스템 온 칩을 위한 연결선 지연 고장 테스트 제어기 | en_US |
| dc.title.alternative | At-speed Interconnect Test Controller for SoC with Multiple System Clocks and Heterogeneous Cores | en_US |
| dc.type | Article | en_US |
| dc.contributor.googleauthor | 김영훈 | - |
| dc.contributor.googleauthor | 장연실 | - |
| dc.contributor.googleauthor | 이현빈 | - |
| dc.contributor.googleauthor | 박성주 | - |
| dc.sector.campus | E | - |
| dc.sector.daehak | COLLEGE OF COMPUTING[E] | - |
| dc.sector.department | DIVISION OF COMPUTER SCIENCE | - |
| dc.identifier.pid | paksj | - |
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