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| Issue Date | Title | Author(s) |
|---|---|---|
| 2013-02 | SRAM 셀의 커플링 커패시터에 의한 신뢰성 영향과 테스트 방법 | 배종선 |
| 2007-08 | 비트라인 네거티브 전압 스트레스를 이용한 메모리 셀 간의 Crosstalk 고장의 진단 및 테스트 방법 | 배종선 |
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|---|---|---|
| 2013-02 | SRAM 셀의 커플링 커패시터에 의한 신뢰성 영향과 테스트 방법 | 배종선 |
| 2007-08 | 비트라인 네거티브 전압 스트레스를 이용한 메모리 셀 간의 Crosstalk 고장의 진단 및 테스트 방법 | 배종선 |
