본 논문에서는 저가의 A/D converter를 사용 할 때에도 정현파 신호의 진 폭을 검출하는 방법을 제안한다. 여기서는 면적추정법 기반의 언더샘플링과 위상 변이를 사용한 진폭 추정 기법을 제시한다. 이것은 면적추정법을 사용하기 때문에 측정 노이즈와 신호 왜곡에 대해 상 대적으로 강인하다는 장점을 지닌다. 어느 정도의 내성을 확보하기 위해 주어 진 정현파 신호에 대하여 어떻게 샘플링 주파수와 sampled data의 개수를 정 해야 하는지 보일 것이다. 제안된 알고리즘은 시뮬레이터로 수행한 모의실험 결과와 스캐너 하드웨어 플랫폼에서 실제 실험을 수행한 결과를 분석함으로써 그 성능을 검증한다.