Full metadata record
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | 박성주 | - |
dc.date.accessioned | 2021-04-27T01:59:56Z | - |
dc.date.available | 2021-04-27T01:59:56Z | - |
dc.date.issued | 2000-04 | - |
dc.identifier.citation | 전자공학회논문지-SD, v. 247, no. 4, page. 71-79 | en_US |
dc.identifier.issn | 1229-6368 | - |
dc.identifier.uri | https://www.dbpia.co.kr/journal/articleDetail?nodeId=NODE00404747 | - |
dc.identifier.uri | https://repository.hanyang.ac.kr/handle/20.500.11754/161746 | - |
dc.description.abstract | 기존의 March 알고리즘으로는 내장된 메모리의 CMOS ADOFs(Address Decoder Open Faults)를 점검할 수 없다. 번지 생성 순서 및 데이터 생성을 달리 할 수 있다는 자유도(DOF: Degree of Freedom)에 근거한 수정된 March 알고리즘이 제안되었다. 본 논문에서는 번지생성기로 완전 CA(Cellular Automata)를, 데이터 생성기로 Rl-LFSRs(Randomly Inversed LFSRs)을 사용하여 수정된 March 알고리즘을 개선하였다. 본 알고리즘은 기존의 March 알고리즘에서 점검할 수 있었던 SAF, ADF, CF, TF, 및 CMOS ADOF의 완점점검은 물론, NPSFs(Neighborhood Pattern Sensitive Faults)도 추가로 점검할 수 있으며, 알고리즘의 복잡도는 O(n)을 유지한다. | en_US |
dc.language.iso | ko_KR | en_US |
dc.publisher | 대한전자공학회 | en_US |
dc.subject | 전자계산기 | en_US |
dc.subject | NPSFS | en_US |
dc.subject | march알고리즘 | en_US |
dc.subject | Memory test | en_US |
dc.subject | CMOS ADOF | en_US |
dc.title | NPSFs를 고려한 수정된 March 알고리즘 | en_US |
dc.title.alternative | Modified March Algorithm Considering NPSFs | en_US |
dc.type | Article | en_US |
dc.relation.journal | 전자공학교육연구회지 | - |
dc.contributor.googleauthor | 김태형 | - |
dc.contributor.googleauthor | 윤수문 | - |
dc.contributor.googleauthor | 박성주 | - |
dc.relation.code | 2012101085 | - |
dc.sector.campus | E | - |
dc.sector.daehak | COLLEGE OF COMPUTING[E] | - |
dc.sector.department | DIVISION OF COMPUTER SCIENCE | - |
dc.identifier.pid | paksj | - |
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