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금속화 폴리프로필렌 필름 커패시터의신뢰성 평가 방법

Title
금속화 폴리프로필렌 필름 커패시터의신뢰성 평가 방법
Other Titles
Reliability Estimation of Metalized Polypropylene Film Capacitor using Accelerated Degradation Test
Author
한상미
Alternative Author(s)
HAN, Sang Mi
Advisor(s)
곽계달
Issue Date
2008-08
Publisher
한양대학교
Degree
Master
Abstract
전자 회로에서 전원 공급의 안정화를 도모하기 위하여 주로 사용되는 금속화 폴리프로필렌 커패시터(이하 ‘MPPF 커패시터’라 함)에 이상이 생기면, 전원 공급에 문제가 생겨 전자회로 전체에 큰 영향을 미치기 때문에 중요한 역할을 하고 있다. 따라서, 이러한 MPPF 커패시터에 영향을 미치는 요인에 대한 꾸준한 연구가 진행되어 오고 있다. 본 연구에서는 MPPF 커패시터의 주요 고장 원인을 분석하고 가속열화시험을 통하여 수명을 추정해 보고자 하였다. MPPF 커패시터의 주요 고장 원인인 Self-healing 메커니즘에 영향을 미치는 전압과 온도 조건을 가속변수로 정하여 가속열화시험을 설계하고 실시하였다. 본 연구에서는 시험 후 고장분석 결과 주요 고장모드가 Self-healing 메커니즘에 의한 정전용량의 감소로 확인되었으며, 전압보다 온도가 Self-healing 메커니즘에 미치는 영향이 더 크다는 것을 알 수 있었다. 결과 데이터를 분석하여 수명-스트레스 관계식, 가속 계수 및 B10 수명에 대한 결과를 얻을 수 있었다.
This paper explains an accelerated degradation test for metalized polypropylene capacitors which is primary use charge/discharge, coupling and decoupling etc. The dominant failure mode of the metalized polypropylene capacitors is decrease in capacitance that was caused by self-healing mechanism. In the Accelerated Degradation Test (ADT), we estimated the amount of capacitance according to different test conditions of two acceleration stresses, temperature and voltage. So, we found that temperature affects self-healing mechanism more than voltage by ADT result. We have estimated the relation of life-stress, B10-life, two parameter of Weibull distribution and acceleration factor with ADT data.
URI
https://repository.hanyang.ac.kr/handle/20.500.11754/146682http://hanyang.dcollection.net/common/orgView/200000409677
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