S-Parameter 측정을 이용한 MLCC(다층 세라믹 커패시터)의 회로 모델링

Abstract

본 논문에서는 50MHz부터 25GHz까지 주파수 범위를 갖는 S-parameter를 이용하여 MLCC(다층 세라믹 커패시터)를 특성화 하였다. 또한 기생 전송선 성분을 제거하는 새로운 De-embedding방법을 개발하였다. MLCC를 부착할 Test Fixture는 인쇄 배선 회로용 기판(PCB)을 사용하여 제작하고, MLCC의 기생성분은 VNA(벡터 네트워크 어날라이저)와 임피던스 어날라이저를 이용하여 추출하였다. 마지막으로 MLCC의 회로 모델 파라 미터를 추출하고, 이의 타당성을 증명하였다.; MLCC (Multi Layer Ceramic Capacitor) is characterized in the frequency range of 50MHz to 25GHz by using s-parameters. A new de-embedding method that eliminates parasitic transmission line effects is developed. A test fixture that mounts MLCC is designed with printed circuit board (PCB). Then the parasitic effects of MLCCs are characterized by using VNA and Impedance Analyzer. The circuit model parameters of the MLCC are extracted and its validity is verified.