AMBA 기반 SoC의 병렬 코어 테스트를 위한 효과적인 설계 기술

Abstract

본 논문은 AMBA 기반 SoC를 테스트 대상으로 테스트를 위한 설계비용은 최소화 하면서 테스트 시간을 효과적으로 줄이기 위한 설계기술을 제시한다. 이를 위해 SoC의 시스템 버스로서 널리 사용되는 Advanced Microcontroller Bus Architecture (AMBA) 버스를 테스트 시 테스트 접근 기술 (Test Access Mechanism)로 재사용 하여 테스트 스케줄링에 따라 동시에 복수개의 코어를 테스트 하여 테스트 시간을 단축 하며 추가 회로는 최소화 한다.; To meet time-to-market requirements, today’s System-on-a-Chip (SoC) is designed with reusable IP cores. However, the increasing cost of testing becomes a big burden in manufacturing a highly integrated SoC. This paper introduce design technic that can test cores of AMBA based SoC concurrently. To achieve the goal AMBA bus is reused for TAM and some logic is added. Experimental results show that testing times are considerably reduced with a little area overhead.