Full metadata record
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.advisor | 심종인 | - |
dc.contributor.author | 염혜승 | - |
dc.date.accessioned | 2020-03-26T16:35:10Z | - |
dc.date.available | 2020-03-26T16:35:10Z | - |
dc.date.issued | 2011-02 | - |
dc.identifier.uri | https://repository.hanyang.ac.kr/handle/20.500.11754/139570 | - |
dc.identifier.uri | http://hanyang.dcollection.net/common/orgView/200000416320 | en_US |
dc.description.abstract | 현재 InGaN/GaN계 다중양자우물 (Multiple Quantum Well, MQW) 발광다이오드 (Light-Emitting Diodes)에서의 큰 이슈 중 하나인 효율 저하 (Efficiency droop) 현상의 원인 규명을 위하여 주입 전류량의 변화에 따른 내부양자효율 (Internal Quantum Efficiency, IQE) 및 발광 스펙트럼의 변화를 측정하는 실험을 하고 각 실험 결과들의 물리적 의미와 상관 관계를 분석하였다. 또한 청색 발광다이오드 패키지의 과전압 (Overvoltage) 인가 스크리닝 시험 (Screening test)을 하여 시험 전• 후 발광다이오드의 전류-전압 특성, 내부양자효율, 발광 스펙트럼을 측정하여 성능 변화를 분석하였고, 고장 시간 및 고장 개수를 통계 처리하여 평균 고장률 (Mean failure rate) 및 평균 수명 (Mean time to failure, MTTF)을 계산하였다. | - |
dc.publisher | 한양대학교 | - |
dc.title | 발광다이오드의 전기 광학적 성능 변화에 기초한 고장 모드 분석에 관한 연구 | - |
dc.title.alternative | Failure Mode Analysis based on the Optoelectronic Performance Characterization in Light Emitting Diodes | - |
dc.type | Theses | - |
dc.contributor.googleauthor | 염혜승 | - |
dc.contributor.alternativeauthor | Yeom, Hye Seung | - |
dc.sector.campus | S | - |
dc.sector.daehak | 대학원 | - |
dc.sector.department | 전자전기제어계측공학과 | - |
dc.description.degree | Master | - |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.