본 연구는 MgO 코팅과 Impressed Current Cathodic Protection(ICCP) 혼용에 따라 발생하는 이종부식전 류로 인한 방식 전류의 knock-off 현상을 고려하여 방식 시스템을 제시하기 위한 선행 연구이다. 인가한 환 원전류 값에 따른 방식 효과를 검증하기 위해 네 단계(0, 5, 10, 20 mA/m2)의 환원전류를 한 달 동안 인가한 후 전기화학적 시험법(Tafel curve, Linear Polarization Resistance, Cyclic Polarization Scan)을 통해 부식특 성을 조사하였다.