2004-10 | A Reconfigurable Test Access Mechanism for Embedded Core Test | 박성주 |
2011-08 | Redundancy TSV 연결 테스트를 위한 래퍼셀 설계 | 박성주 |
2014-01 | Reliability issues for automobile SoCs | 박성주 |
2015-11 | SCAN-PUF: PUF Elements Selection Methods for Viable IC Identification | 박성주 |
2002-11 | A simple wrapped core linking module for SoC test access | 박성주 |
2016-10 | Test Access Mechanism for Automotive Chips through Vehicular Control Networks | 박성주 |
2019-02 | Time Division Multiplexing based Test Access for Stacked ICs | 박성주 |
2018-08 | Time-Multiplexed 1687-Network for Test Cost Reduction | 박성주 |
2016-07 | Time-multiplexed test access architecture for stacked integrated circuits | 박성주 |
2013-01 | TSV 기반 3D IC Pre/Post Bond 테스트를 위한IEEE 1500 래퍼 설계기술 | 박성주 |
2003-03 | 계층적 SoC 테스트 접근을 위한 명령어 기반 코아 연결 모듈의 설계 | 박성주 |
2003-01 | 계층적 SoC 테스트 접근을위한 플래그 기반 코아 연결 모듈의 설계 | 박성주 |
2004-09 | 고성능 병렬 CRC 생성기 설계 | 박성주 |
2005-07 | 논리 최적화 기법을 이용한 병렬 CRC 회로 설계 | 박성주 |
2005-07 | 논리 최적화 기법을 이용한 병렬 회로 설계 CRC | 박성주 |
2005-05 | 다중 시스템 클럭과 이종 코아를 가진 시스템 온 칩을 위한 연결선 지연 고장 테스트 제어기 | 박성주 |
2005-05 | 다중 시스템 클럭과 이종 코아를 가진 시스템 온 칩을 위한 연결선 지연 고장 테스트 제어기 | 박성주 |
2006-01 | 다중 시스템 클럭으로 동작하는 보드 및 SoC의 연결선 지연 고장 테스트 | 박성주 |
2014-12 | 메모리 데이터의 신뢰성 향상을 위한 LDPC의 효과적 사용 | 박성주 |
2009-02 | 스캔 기반 사이드 채널 공격에 대한 새로운 AES 코아 키 보호 기술 | 박성주 |
2010-02 | 스캔 설계된 AES 코아의 효과적인 비밀 키 보호 기술 | 박성주 |
2004-08 | 재구성 가능한 시스템 칩 테스트 제어기술의 개발 | 박성주 |
2005-06 | 저 전력 시스템 온 칩 설계를 위한 버스 분할 기술 | 박성주 |
2007-11 | 저비용 SoC 테스트를 위한 IEEE 1500 래퍼 및 테스트 제어 | 박성주 |
2007-05 | 저비용 SoC 테스트를 위한 IEEE 1500 래퍼 설계 | 박성주 |
2006-10 | 저전력 테스트 데이터 압축 개선을 위한 효과적인 기법 | 박성주 |
2015-10 | 차량용 SoC의 신뢰성 향상을 위한 CAN 통신 기반의 고장진단 플랫폼 설계 | 박성주 |
2006-11 | 천이 지연 고장 테스트를 위한 IEEE 1500 래퍼 셀 설계 | 박성주 |
2007-11 | 천이 지연 고장 테스트를 위한 개선된 IEEE 1500 래퍼 셀 및 인터페이스 회로 설계 | 박성주 |
2007-02 | 칩 및 코아간 연결선의 지연 고장 테스트 | 박성주 |