| 2017-07 | On Diagnosing the Aging Level of Automotive Semiconductor Devices | 박성주 |
| 2010-07 | On-Chip Support for NoC-Based SoC Debugging | 박성주 |
| 2008-06 | Optimal SoC Test Interface for Wafer and Final Tests | 박성주 |
| 2006-10 | Parallel CRC Logic Optimization Algorithm for High Speed Communication Systems | 박성주 |
| 2009-11 | Parallel test method for NoC-based SoCs | 박성주 |
| 2011-04 | Performance Improvement by Logic Sharing on Using Unused Spare Columns for Memory EC | 박성주 |
| 2004-10 | A Reconfigurable Test Access Mechanism for Embedded Core Test | 박성주 |
| 2011-08 | Redundancy TSV 연결 테스트를 위한 래퍼셀 설계 | 박성주 |
| 2014-01 | Reliability issues for automobile SoCs | 박성주 |
| 2015-11 | SCAN-PUF: PUF Elements Selection Methods for Viable IC Identification | 박성주 |
| 2002-11 | A simple wrapped core linking module for SoC test access | 박성주 |
| 2016-10 | Test Access Mechanism for Automotive Chips through Vehicular Control Networks | 박성주 |
| 2019-02 | Time Division Multiplexing based Test Access for Stacked ICs | 박성주 |
| 2018-08 | Time-Multiplexed 1687-Network for Test Cost Reduction | 박성주 |
| 2016-07 | Time-multiplexed test access architecture for stacked integrated circuits | 박성주 |
| 2013-01 | TSV 기반 3D IC Pre/Post Bond 테스트를 위한IEEE 1500 래퍼 설계기술 | 박성주 |
| 2003-03 | 계층적 SoC 테스트 접근을 위한 명령어 기반 코아 연결 모듈의 설계 | 박성주 |
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| 2004-09 | 고성능 병렬 CRC 생성기 설계 | 박성주 |
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| 2005-05 | 다중 시스템 클럭과 이종 코아를 가진 시스템 온 칩을 위한 연결선 지연 고장 테스트 제어기 | 박성주 |
| 2005-05 | 다중 시스템 클럭과 이종 코아를 가진 시스템 온 칩을 위한 연결선 지연 고장 테스트 제어기 | 박성주 |
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| 2014-12 | 메모리 데이터의 신뢰성 향상을 위한 LDPC의 효과적 사용 | 박성주 |
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| 2004-08 | 재구성 가능한 시스템 칩 테스트 제어기술의 개발 | 박성주 |
| 2005-06 | 저 전력 시스템 온 칩 설계를 위한 버스 분할 기술 | 박성주 |
| 2007-11 | 저비용 SoC 테스트를 위한 IEEE 1500 래퍼 및 테스트 제어 | 박성주 |
