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Issue Date | Title | Author(s) |
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2008-06 | 크로스토크 방지 기술을 적용한 칩 제작기법에서의 클럭 넷 쉴드 처리에 의한 셀 면적 오버헤드 개선 | 박성주 |
2013-07 | 테스트 비용 절감을 위한 스캔체인 기반의 저전력 테스트 패턴 압축기술 | 박성주 |
2004-01 | 테스팅 및 저전력을 고려한 최적화된 상태할당 기술 개발 | 박성주 |
2006-11 | 파이프라인 구조를 적용한 병렬 CRC 회로 설계 | 박성주 |
2005-11 | 파이프라인 구조를 적용한 병렬 CRC 회로 설계 | 박성주 |
2008-04 | 효율적인 SoC 테스트를 위한 온/오프-칩 버스 브리지 활용기술에 대한 연구 | 박성주 |
2008-04 | 효율적인 SoC테스트를 위한 온/오프-칩 버스 브리지 활용기술에 대한 연구 | 박성주 |