고출력 CW 레이저에 의한 CMOS 영상 센서의 손상 분석

Title
고출력 CW 레이저에 의한 CMOS 영상 센서의 손상 분석
Other Titles
High-Power Continuous-Wave Laser-Induced Damage to Complementary Metal-Oxide Semiconductor Image Sensor
Authors
장경영장경영
Keywords
Image Quality(영상 품질); High Power CW Laser(고출력 연속 발진 레이저); Laser-Induced Damage(레이저 조사 손상); CMOS Image Sensor(CMOS 영상 센서)
Issue Date
2015-01
Publisher
대한기계학회
Citation
대한기계학회논문집 A, v. 39, NO 1, Page. 105-109
Abstract
고출력 레이저에 의한 영상 센서의 손상 분석 연구를 수행하였다. 고출력 레이저에 의한 금속의 손상에 관한 연구는 많이 이루어져 있지만, 상대적으로 고출력 레이저에 취약한 영상 시스템의 손상 연구는 미비한 상태이다. 본 논문에서는 CMOS 영상 센서에 고출력 레이저가 조사 되었을 때, 영상 센서가 받는 손상에 대해 실험적으로 분석하였다. 고출력 레이저 소스로는 근적외선대역의 연속발진 광섬유 레이저를 사용하였으며, 레이저 세기와 조사시간에 따른 CMOS 영상 센서의 영구적 손상 및 영상 품질을 분석하였다. 그 결과 조사시간과 레이저세기가 증가함에 따라 먼저 색상 손상이 나타나고 이후 작동 불능 상태가 되었으며, 이러한 손상은 조사시간보다 레이저 세기에 더 큰 영향을 받는 것으로 나타났다.
URI
http://www.dbpia.co.kr/Article/NODE06069135http://hdl.handle.net/20.500.11754/21177
ISSN
1226-4873
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COLLEGE OF ENGINEERING[S](공과대학) > MECHANICAL ENGINEERING(기계공학부) > Articles
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