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Efficient Interconnect Test Patterns and BIST Implementation for Crosstalk and Static Faults

Title
Efficient Interconnect Test Patterns and BIST Implementation for Crosstalk and Static Faults
Author
박성주
Issue Date
2005-05
Publisher
대한전자공학회
Citation
2005년도 SOC 학술대회, Page. 248 - 253
Abstract
본 논문은 보드 또는 SoC 상에서 코아와 코아 사이의 연결선 고장 점검을 위한 효과적인 테스트 패턴 알고리즘과 테스트 패턴 생성기를 소개한다. 연결선 고장 모델 분석을 통해 crosstalk과 정적인 고장을 100% 점검할 수 있는 6n 패턴 알고리즘을 소개한다. 보다 적은 4n+1 개의 패턴으로 100%에 가까운 고장 점검율을 얻으면서 crosstalk 뿐 아니라 정적고장의 검출 및 진단도 가능한 알고리즘을 제안하고, 효과적인 BIST구현 기술에 대하여 소개한다.
URI
http://www.dbpia.co.kr/journal/articleDetail?nodeId=NODE01731681&language=ko_KRhttp://repository.hanyang.ac.kr/handle/20.500.11754/110513
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COLLEGE OF COMPUTING[E] > COMPUTER SCIENCE(소프트웨어학부) > Articles
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