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Crosstalk 고장 점검을 위한 효과적인 연결선 테스트 패턴 생성 알고리즘에 관한 연구

Title
Crosstalk 고장 점검을 위한 효과적인 연결선 테스트 패턴 생성 알고리즘에 관한 연구
Other Titles
An Efficient Interconnect Test Pattern Generation Algorithm for Crosstalk Faults
Author
박성주
Keywords
Crosstalk; Fault Model; Interconnect Test
Issue Date
2007-12
Publisher
대한전자공학회
Citation
전자공학회논문지 - SD, v. 44, No. 12, Page. 71 - 76
Abstract
고성능의 칩을 설계함에 있어 연결선 사이의 크로스토크 고장은 무시할 수 없는 요인이 되었다. 본 논문에서는 칩 및 보드 레벨에서의 연결선 테스트를 위한 효과적인 테스트 패턴 알고리즘을 제시한다. 크로스토크 고장 점검율이 100%인 기존 6n 알고리즘을 분석하고 실질적으로 크로스토크 영향을 주는 net를 고려하여 보다 적은 패턴으로 동일한 고장 점검율을 얻는 새로운 알고리즘을 제안한다. The effect of crosstalk errors is most significant in high-performance circuits. This paper presents effective test patterns for SoC and Board level interconnects considering actual effective aggressors. Initially '6n' algorithm, where 'n' is the total number of interconnect nets, is analyzed to detect and diagnose 100% crosstalk faults. Then, more efficient algorithm is proposed reducing the number of test patterns significantly while maintaining complete crosstalk fault coverage.
URI
http://www.dbpia.co.kr/journal/articleDetail?nodeId=NODE00931380&language=ko_KRhttp://repository.hanyang.ac.kr/handle/20.500.11754/107558
ISSN
1229-6368
Appears in Collections:
COLLEGE OF COMPUTING[E] > COMPUTER SCIENCE(소프트웨어학부) > Articles
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