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dc.contributor.author박성주-
dc.date.accessioned2019-07-15T05:55:39Z-
dc.date.available2019-07-15T05:55:39Z-
dc.date.issued2007-11-
dc.identifier.citation전자공학회논문지 - SD, v. 44, No. 11, Page. 65 - 73en_US
dc.identifier.issn1229-6368-
dc.identifier.urihttp://www.dbpia.co.kr/journal/articleDetail?nodeId=NODE00917722&language=ko_KR-
dc.identifier.urihttp://repository.hanyang.ac.kr/handle/20.500.11754/107380-
dc.description.abstract본 논문에서는 저비용 SoC 테스트를 위한 테스트 설계 기술에 대해서 다룬다. IEEE 1500 랩드 코어를 SoC TAP (Test Access Port) 을 통하여 스캔 테스트를 수행하는 방법을 제시하고, 지연고장 테스트를 위한 테스트 클럭 생성회로를 설계한다. TAP의 신호만을 이용하여 SoC 테스트를 수행함으로써 테스트 핀 수를 줄일 수 있고, SoC 내부의 회로를 사용하여 지연고장 테스트를 수행함으로써 저가의 테스트 장비를 사용할 수 있다. 실험을 통하여 제시한 방식의 효율성을 평가하고, 서로 다른 주파수의 클럭을 사용하는 여러 코어의 지연고장 테스트를 동시에 수행 할 수 있음을 확인한다. This paper introduces design-for-test (DFT) techniques for low-cost system-on-chip (SoC) test. We present a Scan-Test method that controls IEEE 1500 wrapper thorough IEEE 1149.1 SoC TAP (Test Access Port) and design an at-speed test clock generator for delay fault test. Test cost can be reduced by using small number of test interface pins and on-chip test clock generator because we can use low-price automated test equipments (ATE). Experimental results evaluate the efficiency of the proposed method and show that the delay fault test of different cores running at different clocks test can be simultaneously achieved.en_US
dc.language.isoko_KRen_US
dc.publisher대한전자공학회en_US
dc.subjectDesign for testen_US
dc.subjectIEEE 1149.1en_US
dc.subjectIEEE 1500en_US
dc.subjectat-speed testen_US
dc.subjectSystem-on-chipen_US
dc.title저비용 SoC 테스트를 위한 IEEE 1500 래퍼 및 테스트 제어en_US
dc.title.alternativeIEEE 1500 Wrapper and Test Control for Low-Cost SoC Testen_US
dc.typeArticleen_US
dc.relation.journal전자공학회논문지-
dc.contributor.googleauthor이현빈-
dc.contributor.googleauthor김진규-
dc.contributor.googleauthor정태진-
dc.contributor.googleauthor박성주-
dc.relation.code2012210989-
dc.sector.campusE-
dc.sector.daehakCOLLEGE OF COMPUTING[E]-
dc.sector.departmentDIVISION OF COMPUTER SCIENCE-
dc.identifier.pidpaksj-
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COLLEGE OF COMPUTING[E] > COMPUTER SCIENCE(소프트웨어학부) > Articles
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