Browsing by Author 박성주

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Issue DateTitleAuthor(s)
2017-07On Diagnosing the Aging Level of Automotive Semiconductor Devices박성주
2008-06Optimal SoC Test Interface for Wafer and Final Tests박성주
2006-10Parallel CRC Logic Optimization Algorithm for High Speed Communication Systems박성주
2015-11SCAN-PUF: PUF Elements Selection Methods for Viable IC Identification박성주
2016-10Test Access Mechanism for Automotive Chips through Vehicular Control Networks박성주
2019-02Time Division Multiplexing based Test Access for Stacked ICs박성주
2018-08Time-Multiplexed 1687-Network for Test Cost Reduction박성주
2016-07Time-multiplexed test access architecture for stacked integrated circuits박성주
2017-02간헐적 재난의 효과적인 관리를 위한 협력적 네트워크의 역할박성주
2005-07논리 최적화 기법을 이용한 병렬 회로 설계 CRC박성주
2005-05다중 시스템 클럭과 이종 코아를 가진 시스템 온 칩을 위한 연결선 지연 고장 테스트 제어기박성주
2005-05다중 시스템 클럭과 이종 코아를 가진 시스템 온 칩을 위한 연결선 지연 고장 테스트 제어기박성주
2006-01다중 시스템 클럭으로 동작하는 보드 및 SoC의 연결선 지연 고장 테스트박성주
2005-06저 전력 시스템 온 칩 설계를 위한 버스 분할 기술박성주
2007-11저비용 SoC 테스트를 위한 IEEE 1500 래퍼 및 테스트 제어박성주
2007-05저비용 SoC 테스트를 위한 IEEE 1500 래퍼 설계박성주
2006-10저전력 테스트 데이터 압축 개선을 위한 효과적인 기법박성주
2015-10차량용 SoC의 신뢰성 향상을 위한 CAN 통신 기반의 고장진단 플랫폼 설계박성주
2006-11천이 지연 고장 테스트를 위한 IEEE 1500 래퍼 셀 설계박성주
2007-11천이 지연 고장 테스트를 위한 개선된 IEEE 1500 래퍼 셀 및 인터페이스 회로 설계박성주
2007-02칩 및 코아간 연결선의 지연 고장 테스트박성주
2008-06크로스토크 방지 기술을 적용한 칩 제작기법에서의 클럭 넷 쉴드 처리에 의한 셀 면적 오버헤드 개선박성주
2006-11파이프라인 구조를 적용한 병렬 CRC 회로 설계박성주
2005-11파이프라인 구조를 적용한 병렬 CRC 회로 설계박성주
2008-04효율적인 SoC테스트를 위한 온/오프-칩 버스 브리지 활용기술에 대한 연구박성주

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